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介質(zhì)損耗因數(shù)介電常數(shù)測(cè)試儀

型 號(hào)GDAT-A

更新時(shí)間2024-11-20

廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家

報(bào)價(jià)

產(chǎn)品描述:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

產(chǎn)品概述

 介質(zhì)損耗因數(shù)介電常數(shù)測(cè)試儀安全注意事項(xiàng)

4.1 使用前務(wù)必詳閱此說明書,并遵照指示步驟,依次操作。

4.2 請(qǐng)勿使用非原廠提供之附件,以免發(fā)生危險(xiǎn)。

4.3 進(jìn)行測(cè)試時(shí),本儀器測(cè)量端高壓輸出端上有直流高壓輸出,嚴(yán)禁人體接觸 ,以免觸電。

4.4 為避免測(cè)試棒本身絕緣泄漏造成誤差,接儀器測(cè)量端輸入的測(cè)試棒應(yīng)盡可 能懸空,不與外界物體相碰。

4.5 當(dāng)被測(cè)物絕緣電阻值高,且測(cè)量出現(xiàn)指針不穩(wěn)現(xiàn)象時(shí),可將儀器測(cè)量線屏 蔽端夾子接上。 例如:對(duì)電纜測(cè)纜芯與纜殼的絕緣時(shí),除將被測(cè)物兩 端分 別接于輸入端與高壓 端,再將電纜殼 ,芯之間的內(nèi)層絕緣物接儀器 “G”,以消 除因 表面漏電而 引起的測(cè)量誤差。也可用加屏蔽盒的方法, 即將被測(cè)物置于金屬屏蔽盒內(nèi),接上測(cè)量線。

 

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置:

2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

 

 

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀特點(diǎn): 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測(cè)Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對(duì)固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測(cè)試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào)   源輸出口,所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源。

◎ 測(cè)試裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

 

介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作頻率范圍是10kHz~120MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器和測(cè)微圓筒線性電容器組成,平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品,配用Q表作為指示儀器。

絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。

同樣,由測(cè)微圓筒線性電容器的電容量讀數(shù)變化,通過公式計(jì)算得到介電常數(shù)。

 

 

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀電感器:

按測(cè)試頻率要求,需要配置不同量的電感器。

例如:在1MHz測(cè)試頻率時(shí),要配250μH電感器,在50MHz測(cè)試頻率時(shí),要配0.1μH電感器等。

 

高頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購,以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

 

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用條件

①環(huán)境溫度: 0~40℃

②相對(duì)溫度:≤70%

③供電電流:交流 220V±10%50Hz

2.3 儀器可連續(xù)工作 8 小時(shí)

2.4 消耗功率:約 10W

2.5 外形尺寸:長(zhǎng)寬深 355mm×320mm×145mm

2.6 重量:約 6kg(主機(jī))

 

 

 

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法

  1. 被測(cè)樣品的準(zhǔn)備

被測(cè)樣品要求為園形,直徑25.4~27mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1~5mm之間,如太薄或太厚則測(cè)試精度就會(huì)下降,樣品要盡可能平直。

下面推薦一種能提高測(cè)試精確性的方法:準(zhǔn)備二片厚0.05mm的園形錫膜,直徑和平板電容器極片*,錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林,它起粘著作用,又能排除接觸面之間殘余空氣,把錫膜再粘在平板電容器兩個(gè)極片上,粘好后,極片呈鏡面狀為佳,然后放上被測(cè)樣品。

2. 測(cè)試順序

先要詳細(xì)了解配用儀器的使用方法,操作時(shí),要避免人體感應(yīng)的影響。

  1. 把配用的儀器主調(diào)諧電容置于zui小電容量,微調(diào)電容置于-3pF。
  2. 把本夾具測(cè)試裝置插到儀器測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上,即插入到儀器上方接線銅柱的右邊兩個(gè)圓柱內(nèi)。


 

  1. 配上相適應(yīng)的高Q值電感線圈,選擇電感沒有特別的方法,只有試或憑經(jīng)驗(yàn)來選擇合適的那個(gè),一般選擇使高頻儀器顯示Q值z(mì)ui大的電感zui為合適。

注:以上步驟是為了使高頻儀器工作起來(儀器是LC諧振工作原理,所以要選擇合適的電感才能使儀器諧振)

  1. 調(diào)節(jié)平板電容器測(cè)微桿,使二極片相接為止,讀取刻度值記為DO。
  2. 再松開二極片,把被測(cè)樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測(cè)微桿,以免夾得過緊或過松),這時(shí)能讀取新的刻度值,記為D1,這時(shí)樣品厚度D2= D1-D0。

注:以上de兩步是測(cè)出被測(cè)樣片的厚度,方便后面計(jì)算介電常數(shù)時(shí)用。

  1. 把園筒電容器置于7mm處(該值不是的,我們一般在測(cè)的時(shí)候放到7mm處就可以測(cè)了,不過有的時(shí)候在做到h步0驟時(shí)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)完刻度了Q值還沒有達(dá)到一半,這時(shí)就要適當(dāng)?shù)陌?mm刻度調(diào)整到9mm或更大了)。
  2. 改變配合儀器頻率,使之諧振,讀得Q值。(如果測(cè)試材料樣片有“要求的測(cè)試頻率”,那么就先把頻率定位到該頻率,然后再調(diào)節(jié)儀器的主調(diào)電容,使儀器諧振(即儀器的Q值顯示為zui大);如果不知道在頻率下測(cè)試的話,我們一般把頻率放在1MHz下來調(diào)試,然后再調(diào)節(jié)主調(diào)電容使儀器工作)。
  3. 先順時(shí)針方向,后逆時(shí)針方向,調(diào)節(jié)園筒電容器,讀取當(dāng)儀器指示Q值為原值的一半時(shí)測(cè)微桿上二個(gè)刻度值,取這二個(gè)值之差,記為M1。(先記下園筒電容在7mm時(shí)儀器諧振時(shí)的zui大Q值,即d步驟測(cè)得的Q值;然后調(diào)節(jié)園筒電容器,看儀器的Q值顯示為原來的一半時(shí),讀取園筒電容器上邊的刻度為多少,要順時(shí)針和逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)兩次取兩個(gè)刻度值;如果園筒電容器順時(shí)針轉(zhuǎn)到0刻度時(shí)Q值還沒有到一半,那么就要返回到第f步驟把園筒電容器置于9mm處或更大,重新操作)。
  4. 再調(diào)節(jié)園筒電容器,使儀器再次諧振(即把園筒電容器調(diào)回到7mm處)。
  5. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)儀器又失諧,調(diào)節(jié)平

板電容器,使再諧振,讀取測(cè)微桿上的讀值D3,其變化值為

D4= D3-D0。

  1. 和h款操作一樣,得到新的二個(gè)值之差,記為M2。

3.  計(jì)算測(cè)試結(jié)果

被測(cè)樣品的介電常數(shù):

Σ=D2 / D4

被測(cè)樣品的損耗角正切值:

     tgδ=K(M1-M2 )/ 15.5                     

式中:K為園筒電容器線性變化率,一般為0.33。

4.  其他應(yīng)用使用方法

使用本測(cè)試裝置和儀器配用,對(duì)絕緣材料以及其他高阻性能的薄材,列如:優(yōu)質(zhì)紙張、優(yōu)質(zhì)木材、粉壓片料等,進(jìn)行相對(duì)測(cè)量,其測(cè)試方法就非常簡(jiǎn)便、實(shí)用,采取被測(cè)樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品相比較方法,就能靈敏地區(qū)別二者之間的輕微差別,例如含水量、配用原料變動(dòng)等等。

測(cè)試時(shí)先把標(biāo)準(zhǔn)樣品放入平板電容器,調(diào)節(jié)儀器頻率,諧振后讀得Q值,再換上被測(cè)樣品,調(diào)節(jié)園筒電位器,再諧振,看Q值變化,如Q值變化很小,說明標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測(cè)樣品高頻損耗值*,反之說明二者性能有區(qū)別,如園筒電容器調(diào)節(jié)不能再諧振,通過調(diào)節(jié)儀器頻率才能諧振,且頻率變化較大,說明被測(cè)樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品的配用原材料相差較大。 

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