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介電常數(shù)介質損耗測試儀廠家供應

型 號gdat-a

更新時間2024-11-19

廠商性質生產廠家

報價

產品描述:介電常數(shù)介質損耗試驗儀滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法

產品概述


介電常數(shù)介質損耗試驗儀滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法、

電感:
 
線圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH
  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH

該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
 
  主要技術特性  
Q 值測量范圍  2 ~ 1023 ,

量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔  
固有誤差  ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)  
工作誤差  ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)  
電感測量范圍  4.5nH ~ 140mH  
電容直接測量范圍  1 ~ 200pF  
主電容調節(jié)范圍  18 ~ 220pF  
主電容調節(jié)準確度  100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %  
信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ~ 160MHz  
頻率分段 ( 虛擬 )100 ~ 999.999kHz,1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz  
頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個字  

BD916介質損耗測試裝置技術特性 

平板電容器: 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選  
極片間距可調范圍:≥15mm 
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 
4.測微桿分辨率:0.001mm


計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低, Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。 
gdat高頻Q表的創(chuàng)新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具
,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。  

介電常數(shù)介質損耗測試儀使用步驟 如下:

測試準備工作
先要詳細了解配用Q表的使用方法,操作時,要避免人體感應的影響。
a. 把配用的Q表主調諧電容置于較小電容量。
b. 把本測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端子上。
c. 配上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取250uH,15MHz時電感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按鍵,打開液晶顯示屏。
e. 調節(jié)平板電容器測微桿,使平板電容器二極片相接為止,長按SET按鍵將初始值設置為0。

4.介電常數(shù)Σ的測試

a. 再松開二極片,把被測樣品插入二極片之間,調節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調節(jié)時要用測微桿,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調電容容量,使Q 表處于諧振點上。

b. 取出平板電容器中的樣品,這時Q 表又失諧,此時調節(jié)平板電容器,使Q 表再回到諧振點上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4

c. 計算被測樣品的介電常數(shù):
                   Σ=D2 / D4
5.介質損耗系數(shù)的測試

a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上。把被測樣品插入二極片之間,改變Q 表上的主調電容容量,使Q 表處于諧振點上,讀得Q 值,記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。

b. 取出平板電容器中的樣品,這時Q 表又失諧,再改變Q 表上的主調電容容量,使Q 表重新處于諧振點上。讀得Q 值,記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。

c. 然后取下測試裝置,再改變Q 表上的主調電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3,此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 -C1

d. 計算被測樣品的介質損耗系數(shù)

?式中:CZ 為測試裝置的電容(平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2)
C0 為測試電感的分布電容(參考LKI-1 電感組的分布電容值)

 

 

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