硫化橡膠薄膜絕緣材料耐電壓擊穿試驗儀
型 號BDJC-50KV
更新時間2024-11-25
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
報價38000
產(chǎn)品概述
硫化橡膠薄膜絕緣材料耐電壓擊穿試驗儀按等效有效值記錄電壓值。 較好的方法是用一塊峰值電壓表并將其讀數(shù)除以根號2。 電壓測量回路的總誤差應(yīng)不超過測得值的5%,該誤差包括了由于電壓表的響應(yīng)時間所引起的誤差。 在所用的任何升壓速率下,該響應(yīng)時間引起的誤差應(yīng)不大于擊穿電壓的1%。果用符合8. 2.1要求的電壓表來測量施加到電極上的電壓。 將它直接接到電極上,也可通過分壓器或電壓互感器接到電極上。 如果使用升壓變壓器的測量線圈來測量電壓,則施加到電極上的 電壓的指示正確度應(yīng)不受升壓變壓器負(fù)載和串聯(lián)電阻器的影響。希望在擊穿后能在電壓表上保留大試驗電莊的讀數(shù)值,從而正確地讀出并記錄擊穿電壓
硫化橡膠薄膜絕緣材料耐電壓擊穿試驗儀試驗應(yīng)記錄如下內(nèi)容:
a) 被試樣品;
b) 試樣厚度的測量方法(若不是標(biāo)稱厚度);
c) 試驗前的處理;
d) 試樣數(shù)量(若不是5個,應(yīng)注明);
e) 試驗溫度;
f) 周圍媒質(zhì);
g) 使用的電極;
h) 升壓方式;
I) 以電氣強度或是擊穿電壓作為報告的結(jié)果。
將符合第5章的電極裝到試樣上,裝電極時要防止損傷試樣。使用符合第8章的電氣設(shè)備,將電壓施加到兩電極之間,接10. 1到10. 5之一的方法升高電壓,觀察試樣是擊穿還是閃絡(luò)<見第11章>。
升壓方式 短時<快跑>試驗 將試驗電壓由零開始以均勻的速度升高直至擊穿發(fā)生。對被試材料選擇開壓速度時,應(yīng)使大多數(shù)擊穿發(fā)生在(10~20) s之間。 對于擊穿電壓有顯著 差異的材料,也有可能在這個時間范圍以外發(fā)生破壞 如果大多數(shù)擊穿都發(fā)生在(10~20) s之間,則認(rèn)為試驗是成功的。升壓速度應(yīng)從下述中選?。?00V/s,200 V/s, 500V/s,1000 V/s,2000v /s, 5000v /s等等
注:對于大多數(shù)材料,通常使用500 V/s的升壓速度,對模塑材料,推薦使用2 000 V/s升壓速度,以便獲得與IEC 6029 6, 2003相適應(yīng)的可比數(shù)據(jù)。 s逐組升壓試驗將40%的預(yù)計短時擊穿電壓施加于試拌上。 假如不知道短時擊穿電壓預(yù)計值,則應(yīng)按10. 1 的方法來得到。假如試樣耐受這個電壓20 s還未擊穿,則應(yīng)按表1規(guī)定的增量逐級增加電壓。 每一次增加的電壓應(yīng)立即且連續(xù)施加20s直至發(fā)生擊穿。表1 電壓值的增量(峰值/根號2) 單位為千伏
起始電壓值U 增量U≤1.0 起始電壓的10%1.0<U≤2.0 0.1
200<U≤5.0 0.2
5.0<U≤10.0 0.5
10<U≤20 1.0
20<U≤50 2.0
50<U≤100 5.0
100<U≤200 10.0
U>200 20.0
注:當(dāng)有規(guī)定時,可以使用更小的電壓增量,在這種情況下,允許更高的起始電壓,但擊穿不應(yīng)在小于120 s內(nèi)發(fā)生。在電擊穿的同時,回路中電流增加和試樣兩端電壓下降。電流的增加可使斷路器跳開或熔絲燒斷.但是有時也可由于閃絡(luò)、試樣充電電流、漏電或局部版電電流、設(shè)備磁化電流或誤動作而引起斷路囂跳開.因此,斷路器應(yīng)與試驗設(shè)備及被試材料的特性相匹配,否則,斷路器可能會在試樣未擊穿時動作或當(dāng)試樣擊穿時斷路器不動作,這樣便不能正確地判斷出是否擊穿。即使在的條件下,也存在周圍媒質(zhì)先擊穿的情況也會發(fā)生。因此,在試驗過程中要注意觀察和檢測這些現(xiàn)象,若發(fā)現(xiàn)媒質(zhì)擊穿,應(yīng)在報告中注明.注:對漏電檢測電路敏感性特別重要的那些材料,在這種材料的標(biāo)準(zhǔn)中也應(yīng)作同樣的說明。
除非另有規(guī)定,報告應(yīng)包括如下內(nèi)容
a) 介電擊穿測試儀(介電擊穿試驗)被試材料的全稱,試樣及其制備方法的說明;
b) 介電擊穿測試儀(介電擊穿試驗)電氣強度的中值<以kV/mm表示>或擊穿電壓的中值(以kV表示);
c) 介電擊穿測試儀(介電擊穿試驗)每個試樣的厚度<見5.4);
d) 試驗時所用的周圍媒質(zhì)及其性能;
e) 電極系統(tǒng);
f) 施加電壓的方式及頻率;
g) 電氣強度的各個值(以kV/mm表示>或擊穿電壓的各個值<以kV表示);