電容器紙電壓擊穿試驗(yàn)儀軟件使用說明：

　　1、試驗(yàn)單位：對材料進(jìn)行試驗(yàn)檢測的單位名稱；

　　2、送試單位：送材料檢測的單位名稱；

　　3、試驗(yàn)方式：選擇進(jìn)行“交流試驗(yàn)”或“直流試驗(yàn)”；

　　4、試驗(yàn)方法：可進(jìn)行“擊穿”，“耐壓”，“梯度耐壓”試驗(yàn)；

　　5、試驗(yàn)人員：輸入檢測人員姓名；

　　6、試驗(yàn)溫度：輸入試驗(yàn)溫度；

　　7、試驗(yàn)濕度：輸入試驗(yàn)濕度；

　　8、設(shè)備型號：顯示機(jī)器型號，此處不可變；

　　9、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：選擇所使用的標(biāo)準(zhǔn)；

　　10、試驗(yàn)介質(zhì)：選擇試驗(yàn)介質(zhì)，或可以自己編輯寫入；

　　11、電極形狀：輸入電極形狀；

　　12、電極尺寸：輸入電極尺寸；

　　13、使用量程：選擇使用量程，分為10KV、20kV、30kv、50kv、100kv；

　　14、峰降電壓：用于判斷材料是否擊穿，必須輸入項(xiàng)；

　　15、初始電壓：用于耐壓和梯度耐壓試驗(yàn)，在試驗(yàn)開始時將電壓升到的位置；

　　16、升壓速度：選擇升壓的速度，控制在試驗(yàn)過程中升壓的快慢；

　　17、梯度電壓：用于梯度耐壓試驗(yàn)，設(shè)置每次升壓的梯度值；

　　18、梯度時間：用于梯度耐壓試驗(yàn)，設(shè)置在相應(yīng)梯度的耐壓時間；

　　19、終止電壓：設(shè)置在試驗(yàn)過程中電壓的上限值；

　　20、試樣制備：設(shè)置試樣的制備信息；

　　21、材料名稱：設(shè)置試驗(yàn)材料的名稱；

　　22、試驗(yàn)時間：選擇試驗(yàn)時期，或?qū)懭朐囼?yàn)日期和時間；

　　23、報告編號：設(shè)置報告編號信息；

　　24、試樣編號：設(shè)置試樣編號信息，試驗(yàn)樣品的規(guī)格編碼及編號；

　　25、試樣形狀：設(shè)置試樣形狀；

　　26、試樣尺寸：輸入試樣的尺寸；

　　27、試樣厚度：輸入試樣厚度，用于計算試驗(yàn)強(qiáng)度，必須輸入；

　　28、應(yīng) 用：確認(rèn)此界面所做設(shè)置；

　　29、退 出：返回主界面，設(shè)置無效；

　　試驗(yàn)軟件：

　　1、本儀器在試驗(yàn)過程中可對升壓擊穿過程繪制實(shí)時曲線，每次試驗(yàn)的升壓曲線都由不同顏色構(gòu)成，試驗(yàn)結(jié)束后可疊加對比材料的試驗(yàn)數(shù)據(jù)重復(fù)性。

　　2、可以隨時調(diào)取當(dāng)前及歷史試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行查看，編輯及修改參數(shù)。

　　3、試驗(yàn)過程中可以隨時修改試驗(yàn)條件及存儲路徑及自動存儲試驗(yàn)結(jié)果。

　　4、試驗(yàn)過程中，可隨時通過軟件決定本次試驗(yàn)是否有效，方便篩選試驗(yàn)結(jié)果。

　　5、可設(shè)置操作口令，做到專機(jī)專人操作，避免無關(guān)人員誤操作。

電容器紙電壓擊穿試驗(yàn)儀常規(guī)型號為：

　　BDJC-10KV

　　BDJC-20KV

　　BDJC-30KV

　　BDJC-50KV

　　BDJC-100KV

　　電氣強(qiáng)度指擊穿電壓比上擊穿樣品的厚度等于樣品的電氣強(qiáng)度。

　　在物理學(xué)中，術(shù)語電氣強(qiáng)度具有以下含義：

　　絕緣材料中，純材料在理想條件下可以承受的 大電場而不會損壞（即不會經(jīng)歷其絕緣性能的失效）。

　　對于電介質(zhì)材料和電極的具體配置，導(dǎo)致?lián)舸┑?小施加電場（即，所施加的電壓除以電極分離距離）。

　　材料的理論電氣強(qiáng)度是大塊材料的固有屬性，并且與施加電場的材料或電極的構(gòu)造無關(guān)。這種“固有介電強(qiáng)度”對應(yīng)于在理想實(shí)驗(yàn)室條件下使用純物質(zhì)測量的值。在擊穿時，電場釋放束縛的電子。如果施加的電場足夠高，來自背景輻射的自由電子可能會加速到在被稱為雪崩擊穿的過程中與中性原子或分子碰撞期間釋放額外電子的速度。擊穿發(fā)生得相當(dāng)突然（通常在幾納秒），導(dǎo)致通過材料形成導(dǎo)電路徑和破壞性放電。對于固體材料，擊穿事件嚴(yán)重降低，甚至破壞其絕緣能力。

　　影響表觀電氣強(qiáng)度的因素：

　　隨著樣品厚度的增加而降低。（見下面的“缺陷”）

　　隨著工作溫度的升高而降低。

　　它隨著頻率的增加而降低。